Материалов:
678 583

Репозиториев:
29

Авторов:
475 470

Оценка структуры кристаллических образцов с помощью излучения быстрых электронов в этих образцах

Дата публикации: 2010

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T08:57:16Z

Аннотация:

Анализ зависимости характеристик рентгеновского излучения, возникающего при прохождении через кристалл быстрых электронов, от качества внутренней структуры образца

Тип: Article


Связанные документы (рекомендация CORE)