В ходе работы исследовались тонкие плёнки диоксида гафния (HfO2) с толщиной до 30 Å, имеющие различные фазы и кристаллографические ориентации. Расчёты производились с целью выявления наиболее стабильной из фаз. Определили, что при толщинах плёнки менее 20 Å наименьшей полной энергией обладают пленки с кубической структурой, а при больших толщинах – с моноклинной структурой. 2D HfO2 с кубической структурой также являются динамически стабильными.
