В работе рассмотрены возможности применения поверхностных плазмонов (ПП) в оптической интерферометрии с целью повышения чувствительности измерений. Описаны методы интерференционной ПП-спектрометрии, ПП-микроскопии и эл-липсометрии проводящей поверхности, а также устройства, реализующие эти методы. Приведены примеры использования ПП-интерферометров в сенсорных устройствах. Рассмотрена возможность применения ПП в голографической интерферометрии для исследования динамических процессов в переходном слое проводящей поверхности.
Тип: Article
Источник: Вестник Российского университета дружбы народов. Серия: Физика
