Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Method of normalization of the contour line in thickness based on binary masks

Shauchuk, A. G., Tsviatkou, V. Yu.

Дата публикации: 2016

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:34:21Z

Аннотация:
Ключевые слова:
публикации ученых, normalization of the contour lines in thickness, the mask analysis, thinning

Тип: Статья

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core