Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур

Кукшинский, Н. И.; Бируков, Е. А.

Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:47:30Z

Аннотация:

В статье рассматривается оборудование для тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур, приводятся их основные технические характеристики.

Ключевые слова:
материалы конференций, тестирование интегральных микросхем, полупроводниковые приборы

Тип: Статья

Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация