Дифракция на оптически анизотропных решетках с разным знаком двулучепреломления

Беляев В.В.; Соломатин А.С.; Беляев А.А.; Маргарян А.Л.; Акопян Н.Г.

Дифракция на оптически анизотропных решетках с разным знаком двулучепреломления

Беляев В.В., Соломатин А.С., Беляев А.А., Маргарян А.Л., Акопян Н.Г.

Дата публикации в реестре: 2024-10-01T18:20:52Z

Аннотация:

Выполнен расчет дифракции лучей, проходящих через оптически анизотропную подложку с поверхностным микрорельефом с использованием оригинальной программы Exedeep (Оптически анизотропные решетки с поверхностным микрорельефом, ОАРПМ). Впервые определены параметры дифракции в разных порядках дифракции для прошедших и отраженных ТЕ- и ТМ-волн для материалов как с положительной, так и отрицательной оптической анизотропией. Результаты моделирования будут использованы для создания дифракционных оптических элементов (ДОЭ), работающих в видимом, инфракрасном и терагерцовом диапазоне.

Ключевые слова:
дифракция, двулучепреломление, микрорельеф, ТЕ- и ТМ-волна

Тип: Article

Источник: Теория и практика приоритетных научных исследований