Detecting a Hierarchy of Deep-Level Defects in the Model Semiconductor ZnSiN<sub>2</sub> - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Detecting a Hierarchy of Deep-Level Defects in the Model Semiconductor ZnSiN₂

De Boer T., Moewes A., Häusler J., Rudel S.S., Schnick W., Strobel P., Boyko T.D.

Дата публикации в реестре: 2024-10-01T18:27:59Z

Тип: Article

Источник: Journal of Physical Chemistry C

Связанные документы (рекомендация CORE)