Предлагается метод определения кристаллографических направлений в кристаллах различной точечной симметрии, вдоль которых комбинация физических свойств различных рангов и симметрий Кюри принимает заданное значение. Метод продемонстрирован на комбинации тензоров второго ранга, описывающих оптические и тепловые свойства кристаллов моноклинной сингонии. Показана возможность применения предлагаемого метода для физических свойств высоких рангов.