Проведен анализ взаимодействия мощных импульсных пучков наносекундной длительности с тонкими пленками графена на медных подложках. Методами спектроскопии комбинационного рассеяния исследована степень деградации графена в зависимости от интегральной имплантационной дозы. С использованием пакета программ SRIM, предназначенного для моделирования физических процессов возникновения каскадов радиационных дефектов при облучении пучками заряженных частиц, а также на основе имеющихся в литературе данных о радиационной стойкости графена, продемонстрирована роль подложки в структурной деградации графена под воздействием пучков заряженных частиц.