Оценка деформаций кристаллической решетки по глубине протонзамещенных оптических волноводов на подложках монокристаллов ниобата лития

Чиркова, Ирина Михайловна; Баснин, Павел Павлович; Севостьянов, Олег Геннадьевич; Кострицкий, Сергей Михайлович

Оценка деформаций кристаллической решетки по глубине протонзамещенных оптических волноводов на подложках монокристаллов ниобата лития

Чиркова, Ирина Михайловна, Баснин, Павел Павлович, Севостьянов, Олег Геннадьевич, Кострицкий, Сергей Михайлович

Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2025-02-11T14:40:59Z

Аннотация:

Предложен способ определения кристаллической фазы и оценки деформаций кристаллической решетки в протонзамещенных оптических HₓLi₁₋ₓNbO₃-волноводах из анализа спектров комбинационного рассеяния света, полученных в методике измерений с высоким пространственным разрешением (так называемой спектроскопии «микроКРС»).

Ключевые слова:
ниобат лития, структурные фазовые переходы, оптические волноводы, протонный обмен, спектроскопия микроКРС

Тип: статьи в журналах

Источник: Известия высших учебных заведений. Физика. 2018. Т. 61, № 6. С. 148-151