Одним из важнейших электрофизических параметров полупроводниковых материалов, определяющих быстродействие как полупроводниковых детекторов, так и, в целом, всех приборов микроэлектроники, является дрейфовая подвижность носителей заряда. Известные на сегодняшний день экспериментальные методы измерения дрейфовой подвижности проводятся при различных аналитических приближениях, что может приводить к значительной погрешности при ее расчете. В данной работе проведено численное моделирование динамики переноса фотоносителей в детекторных HR-GaAs:Cr структурах в среде приборно-технологического проектирования TCAD Sentaurus.