Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа

Непокойчицкий, А. Г.; Францкевич, К. В.; Асташенко, С. Г.

Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа

Непокойчицкий, А. Г., Францкевич, К. В., Асташенко, С. Г.

Дата публикации: 2010

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T12:53:38Z

Аннотация:

В настоящей работе исследована возможность определения толщины и разнотолщинности латунного покрытия на металлокорде. С этой целью для получения спектров достаточной интенсивности производится протяжка образцов через плазму электрического разряда в источниках света для спектрального анализа.

Ключевые слова:
Покрытия тонкие, Метод атомного эмиссионного спектрального анализа

Тип: Статья (Article)

Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация