Дата публикации: 2024

Дата публикации в реестре: 2025-05-27T12:47:39Z

Аннотация:

Одним их способов обеспечения безотказности ответственных средств медицинской электроники является использование в их составе отобранных комплектующих элементов, отвечающих требованию надежности. Применительно к полупроводниковым приборам для отбора могут быть использованы методы индивидуального прогнозирования класса работоспособности (работоспособные или неработоспособные) для заданной наработки по информативным параметрам приборов. Эти методы позволяют в начальный момент времени для готовых и прошедших выходной контроль полупроводниковых приборов по значениям их информативных параметров, измеряемым у каждого конкретного экземпляра (полупроводникового прибора), подсчитать прогнозирующую функцию и по ее значению принять решение о классе работоспособности экземпляра, а далее отобрать те экземпляры, которые для заданной наработки с большой степенью вероятности будут принадлежать к классу работоспособных экземпляров. Интерес для практики представляют методы, в которых информативные параметры полупроводниковых приборов в начальный момент времени преобразуют в дискретный код (двоичный или троичный) и решение о классе работоспособности экземпляра принимают по набору дискретных сигналов без выполнения расчета прогнозирующей функции. Для ответа на вопрос, как по набору кодовых сигналов принимать более достоверные решения, использовано статистическое имитационное моделирование информативных параметров полупроводниковых приборов.

Тип: Article