Дата публикации: 2013

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T12:58:36Z

Аннотация:

Рассматриваются особенности сканирования дефектных зон поверхностей, ориентированных на оптическую визуализацию аномальных отклонений.

Тип: Статья (Article)