Surface states and annihilation characteristics of positrons trapped at reconstructed semiconductor surfaces - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Surface states and annihilation characteristics of positrons trapped at reconstructed semiconductor surfaces

Дата публикации: 2006

Дата публикации в реестре: 2020-02-29T23:17:41Z

Аннотация:

Ключевые слова:
Annihilation, Localization, Positron, Reconstruction, Silicon, Surface

Тип: Article

Источник: SCOPUS01694332-2006-252-9-SID32644459569

Другие версии документа

Surface states and annihilation characteristics of positrons trapped at reconstructed semiconductor surfaces

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ

ТГУ

Elpub

СФУ

Webpublishers

Индексация

BASE

WorldCat

OpenAIRE

EDS

core