Исследовано влияние отжига и присутствия буферного слоя Pd на изменение структуры границ раздела и кристаллической структуры многослойных тонких пленок Co/Pd, осажденных методом термического распыления c толщинами
слоев Co (tCo= 0,2–0,4 нм) и Pd (tPd= 0,6–1,0 нм), при которых ожидается максимальная перпендикулярная магнитная
анизотропия.