Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказов

Епихин, А. Е.; Шнейдеров, Е. Н.; Протасевич, С. А.

Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказов

Епихин, А. Е., Шнейдеров, Е. Н., Протасевич, С. А.

Дата публикации: 2013-05

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T06:59:07Z

Аннотация:

В современном мире основной целью прогнозирования надёжности сложных электронных систем является умень- шение вероятности аварий и связанных с ними человеческих жертв, экономических потерь и нарушений в окружающей среде. Это обуславливает использование метода анализа дерева отказов.

Ключевые слова:
материалы конференций, надежность, электронные системы, дерево отказов, оценка риска

Тип: Article

Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказов

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация