Дата публикации: 2013-05

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T06:59:08Z

Аннотация:

Для биполярных транзисторов (БТ) серийного производства с отработанной технологией были поставлены задачи по исследованию закономерностей дрейфа функциональных параметров при длительной наработке транзисторов. С целью сокращения продолжительности испытаний на длительную наработку принято решение о проведении ускоренных испытаний, выполняемых по типовым методикам. Важным фактором в оценке работоспособности приборов является прогнозирование надежности.

Тип: Article