Структура и оптические свойства тонких пленок теллура

Колосницын, Б. С.; Сицко, И. А.

Структура и оптические свойства тонких пленок теллура

Дата публикации: 2014

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T07:05:16Z

Аннотация:

К новым материалам, которые используются в накопителях информации, относятся пленки халькогенидных стеклообразных полупроводников (ХСП), в состав которых входит теллур.

Ключевые слова:
накопитель информации, дифрактограмма, ХСП, ЭСППЗУ, материалы конференций

Тип: Article

Структура и оптические свойства тонких пленок теллура

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация