Материалов:
1 081 645

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента

Шнейдеров, Е. Н.

Дата публикации: 2014

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T07:06:11Z

Ключевые слова:
материалы конференций, параметрическая надёжность, транзисторы Дарлингтона КТ8225, полевые транзисторы КП723, интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН

Тип: Article

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core