Дата публикации: 2012

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T07:06:24Z

Аннотация:

Предложена и программно реализована методика экстракции и оптимизации SPICE-параметров приборов микроэлектроники, которая включает этапы проведения измерений (компьютерного моделирования) в динамическом и статическом режимах; идентификации параметров моделей из результатов измерений с использованием специализированных модулей; определения характеристик элементов с использованием программ моделирования и результатов идентификации; оптимизации параметров моделей для совпадения результатов измерений и моделирования с заданной точностью.

Тип: Technical Report