Применение сканирующей электронной микроскопиив решении актуальных проблем материаловедения

Зеер, Г.М.; Фоменко, О.Ю.; Ледяева, О.Н.; Zeer, Galina M.; Fomenko, Oksana Yu.; Ledyaeva, Olga N.

Применение сканирующей электронной микроскопиив решении актуальных проблем материаловедения

Зеер, Г.М., Фоменко, О.Ю., Ледяева, О.Н., Zeer, Galina M., Fomenko, Oksana Yu., Ledyaeva, Olga N.

Дата публикации: 2009-12

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T17:24:27Z

Аннотация:

Рассмотрены вопросы практического применения сканирующей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа для исследования материалов. Показаны возможности сканирующего электронного микроскопа JSM 7001F фирмы JEOL (Япония) с системой микроанализаторов фирмы Oxford Instruments (Великобритания) на примере диффузионных соединений разнородных материалов, серебряных электроконтактов и сплава на основе алюминия.

Ключевые слова:
сканирующая электронная микроскопия, микроструктура, микрорентгеноспектральный анализ, scanning electron microscopy, microstructure, X-ray microanalysis

Тип: Journal Article

Применение сканирующей электронной микроскопиив решении актуальных проблем материаловедения

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация