Материалов:
1 082 141

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Characterization of 4 inch GaAs:Cr wafers

Дата публикации: 2017

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:01:31Z

Аннотация:

Тип: статьи в журналах

Источник: Journal of instrumentation : electronic journal. 2017. Vol. 12, № 1. P. C01063 (1-7)


Связанные документы (рекомендация CORE)