Главная
Репозитории
О проекте
Дорожная карта
Мероприятия
Методические материалы
Опрос
Баннеры
Объект инфраструктуры
Рейтинг репозиториев
Как подключиться
Участники
НОРА в СМИ
Материалов:
1 005 021
Репозиториев:
30
Авторов:
761 409
Найти
расширенный поиск
Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ
Майоров, С. А.
,
Урбанович, Павел Павлович
Дата публикации:
1992
Дата публикации в реестре:
2020-02-28T10:23:13Z
Ключевые слова:
полупроваодниковые запоминающие устройства
Тип:
Article
Связанные документы (рекомендация CORE)
Партнеры
Индексация