Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ

Майоров, С. А., Урбанович, Павел Павлович

Дата публикации: 1992

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T10:23:13Z

Ключевые слова:
полупроваодниковые запоминающие устройства

Тип: Article

Связанные документы (рекомендация CORE)