Образование поверхностных дефектов в n-CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением лазерной плазмы

Войцеховский, Александр Васильевич; Ананьин, Олег Борисович; Мелехов, Андрей Петрович; Несмелов, Сергей Николаевич; Дзядух, Станислав Михайлович; Средин, Виктор Геннадьевич

Образование поверхностных дефектов в n-CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением лазерной плазмы

Войцеховский, Александр Васильевич, Ананьин, Олег Борисович, Мелехов, Андрей Петрович, Несмелов, Сергей Николаевич, Дзядух, Станислав Михайлович, Средин, Виктор Геннадьевич

Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:08:18Z

Аннотация:

Исследованы вольт-фарадные характеристики МДП-структур, полученных на основе эпитаксиальных слоев n-Cd0,24Hg0,76Te, подвергнутых воздействию мягкого рентгеновского излучения. Показано, что в результате релаксации электронных возбуждений в приповерхностном слое полупроводника генерируются точечные дефекты, изменяющие электрофизические свойства этого слоя и границы раздела «диэлектрик-полупроводник».

Ключевые слова:
рентгеновское излучение, лазерная плазма, вольт-фарадные характеристики, точечные дефекты, радиационные дефекты

Тип: статьи в журналах

Источник: Прикладная физика. 2018. № 4. С. 54-60