Материалов:
1 005 021

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Свойства пар тестовых наборов, обнаруживающих неисправности задержек путей в логических схемах VLSI высокой производительности

Матросова, Анжела Юрьевна, Липский, Валерий Борисович

Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:17:22Z

Ключевые слова:
логические схемы, дефекты, тестовые наборы

Тип: статьи в журналах

Источник: Автоматика и телемеханика. 2015. № 4. С. 135-148

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core