Материалов:
1 005 021

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Расчет критической толщины перехода от двумерного к трехмерному росту в материальной системе GexSi1-x/Si(100)

Войцеховский, Александр Васильевич, Коханенко, Андрей Павлович, Лозовой, Кирилл Александрович

Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:21:23Z

Ключевые слова:
квантовые точки, кремний, германий, наногетероструктуры, молекулярно-лучевая эпитаксия

Тип: статьи в журналах

Источник: Известия высших учебных заведений. Физика. 2015. Т. 58, № 8/3. С. 227-230

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core