Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом АСМ - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом АСМ

Назарчук, Юлия Николаевна, Новиков, Вадим Александрович, Торхов, Николай Анатольевич

Дата публикации: 2010

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:30:13Z

Ключевые слова:
полупроводниковые структуры, атомно-силовая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, Шоттки барьер, диодные структуры, труды ученых ТГУ

Тип: статьи в сборниках

Источник: Молодежная научная конференция Томского государственного университета, 2009 г.. Томск, 2010. Вып. 2 : Проблемы естествознания. С. 266-269

Связанные документы (рекомендация CORE)