Increasing Manufacturing Yield Using Partially Programmable Circuits with CLB implementation of Incompletely Specified Boolean Function of the Corresponding Sub-circuit

Matrosova, Anjela Yu.; Ostanin, Sergey A.; Kirienko, Irina E.

Increasing Manufacturing Yield Using Partially Programmable Circuits with CLB implementation of Incompletely Specified Boolean Function of the Corresponding Sub-circuit

Matrosova, Anjela Yu., Ostanin, Sergey A., Kirienko, Irina E.

Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:58:55Z

Ключевые слова:
константные неисправности, проверяющие тесты, булевы функции, конфигурируемые логические блоки, частично программируемые схемы

Тип: статьи в сборниках

Источник: Proceedings 2015 IEEE : 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2015), 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia. Los Alamitos [et.al.], 2015. P. 267-270

Increasing Manufacturing Yield Using Partially Programmable Circuits with CLB implementation of Incompletely Specified Boolean Function of the Corresponding Sub-circuit

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация