Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2020-03-18T12:54:35Z

Аннотация:

Методами ИК и УФ спектроскопии, спектроскопии комбинационного рассеяния (КР) и сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) исследована морфология трековых мембран на основе ПЭТФ и ПП с различным диаметром треков и их поверхностной плотностью. Построены кривые распределения числа треков в зависимости от их среднего размера. Аналогичные кривые распределения получены на основе данных метода ИК спектроскопии, хорошо согласующиеся с результатами метода СЭМ. Установлено, что с ростом степени пористости (диаметра треков и их поверхностной плотности) фоновое упругое рассеяние на КР спектрах увеличивается по линейному закону. Предложено наблюдающийся эффект на КР спектрах использовать для оценки степени пористости полимерного образца

Тип: Статья