С использованием рентгеновской дифрактометрии исследованы порошки синтетического алмаза (СА) с различной зернистостью, содержанием примесей и прочностью, полученные в едином цикле синтеза, в сравнении с эталонным образцом натурального алмаза. Выявлена тонкая структура линий рентгеновских дифрактограмм спектров порошков СА, свидетельствующая об искажениях его кристаллической решетки. Установлена связь характера искажений с прочностью и морфологией зерен порошков.