Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов

Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов

Дата публикации: 2013

Дата публикации в реестре: 2020-03-31T23:32:51Z

Аннотация:

Учебно-методическое пособие для лабораторных работ [для студентов спец. 223200.68 «Техническая физика»].

Доступ к полному тексту открыт из сети СФУ, вне сети доступ возможен для читателей Научной библиотеки СФУ или за плату.

В учебно-методическом пособии описаны краткие теоретические сведения по способу получения рентгеновских лучей, их взаимодействию с кристаллической структурой вещества и принципам рентгенофазового анализа. Рентгенофазовый анализ проводится на автоматизированной установке ДРОН-4. Предназначено для студентов специальности 223200.68 «Техническая физика».

Ключевые слова:
материаловедение, Рентгеновская кристаллография, Аллотропные формы углерода, Рентгеновские лучи, Монохроматоры и детекторы, Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом, Получение рентгенограмм, Порошковый дифрактометр ДРОН–4, Приготовление образцов, Процесс съемки, учебно-методические пособия, 539.216.2:548.73

Тип: Book

Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

Индексация