Материалов:
1 005 051

Репозиториев:
0

Авторов:
761 409

Надежность избыточных микросхем памяти, устойчивых к двойным ошибкам

Дата публикации: 1990

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T10:47:43Z

Аннотация:

Одно из направлений в современных методах обеспечения надежности микросхем запоминающих устройств (ЗУ) заключается в размещении на кристалле ЗУ избыточных логических и запоминающих элементов, посредством которых осуществляется замена или нейтрализация дефектных либо отказавших элементов

Тип: Article


Связанные документы (рекомендация CORE)