Материалов:
1 005 021

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

A high performance scan flip-flop design for serial and mixed mode scan test

Tudu, Jaynarayan, Matrosova, Anzhela Yu., Singh, Virendra, Ahlawat, Satyadev

Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2020-12-02T09:54:27Z

Аннотация:
Ключевые слова:
сканирующий триггер, тестовые данные, тесты сканирования

Тип: статьи в журналах

Источник: IEEE transactions on device and materials reliability. 2018. Vol. 18, № 2. P. 321-331

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core