Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии

Дата публикации: 2021

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T16:17:04Z

Аннотация:

Целью данной работы является исследование органического полупроводника поли[2-метокси-5-(2-этилгексилокси)-1,4-фениленвини-лена] (MEH-PPV) методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии, и их применение для исследования локальных (на нанометровых масштабах) свойств поверхности твердых тел, а также твердотельных тонко-пленочных структур и наноструктур на основе полупроводников.

Тип: Article


Связанные документы (рекомендация CORE)