Критерии оценки восприимчивости радиоэлектронных устройств к воздействию электромагнитных помех

Титович, Н. А.; Теслюк, В. Н.

Критерии оценки восприимчивости радиоэлектронных устройств к воздействию электромагнитных помех

Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:29:13Z

Аннотация:

Проанализированы результаты исследований влияния высокочастотных помех на работу транзисторов и микросхем. Предложены критерии оценки их восприимчивости.The results of studies of the effect of high-frequency interference in the work of transistors and microchips. Criteria of evaluation of their susceptibility.

Ключевые слова:
публикации ученых, электромагнитные помехи, транзисторы, микросхемы, восприимчивость, Electromagnetic interference, transistors, integrated circuits, susceptibility

Тип: Article