Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов

Занкович, А. П.

Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов

Дата публикации: 2006

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:30:50Z

Аннотация:

Диссертационная работа посвящена исследованиям в области обеспечения надежности схем ОЗУ. Целью работы является разработка методов, алгоритмов и средств неразрушающего тестирования ОЗУ, характеризующихся высокой достоверностью, малыми аппаратными и программными затратами на реализацию и малым временем обнаружения неисправностей.

Ключевые слова:
автореферат диссертаций, неразрушающие тесты ОЗУ, условия обнаружения неисправностей ОЗУ, локально-симметричные тесты ОЗУ, прерываемые тесты ОЗУ

Тип: Автореферат