Method of normalization of the contour line in thickness based on binary masks - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Method of normalization of the contour line in thickness based on binary masks

Shauchuk, A. G., Tsviatkou, V. Yu.

Дата публикации: 2016

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:34:21Z

Аннотация:

Ключевые слова:
публикации ученых, normalization of the contour lines in thickness, the mask analysis, thinning

Тип: Статья

Связанные документы (рекомендация CORE)