Материалов:
1 082 141

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Reliability Assessment of the Nano-dimensional Dielectrics of the Submicron Microcircuits

Solodukha, V. A., Shvedov, S. V., Chyhir, R. R., Petlitsky, A. N., Filipenya, V. A.

Дата публикации: 2017

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:35:50Z

Ключевые слова:
публикации ученых

Тип: Статья

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core