Рассматриваются вопросы построения современной флэш-памяти и анализируются модели
неисправностей характерные для данного типа запоминающих устройств. Показывается
эффективность применения маршевых тестов запоминающих устройств для обнаружения
неисправностей флэш-памяти. Приводится оценка покрывающей способности маршевых
тестов.The problems of design and reliability of modern flash-memory are discussed in this paper.
The architectures of two types of flash-memory namely the NOR- and NAND-architectures are de-
scribed and the specific flash-memory faults and tests for their detection are discussed. The march-like
tests, which provide the high cover possibility, are shown to be effective tests for detection specific
flash-memory faults.
