Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:45:00Z

Аннотация:

К временным отказам (сбоям) устройств систем безопасности на основе микропроцессоров чаще всего приводят электромагнитные воздействия внешней среды, остальные виды воздействий обычно приводят к необратимым повреждениям в структуре электронных компонентов, в связи с чем устройство полностью теряет свои функции, частично или полностью. Временные отказы микропроцессорных устройств являются следствием проблем электромагнитной помехозащищенности как по линиям питания, так и по средам распространения полезных сигналов (провода, радиоэфир).

Тип: Статья