В данной работе были исследованы закономерности формирования тонких пленок оксида цинка (ZnO) с примесью меди
методом электрохимического осаждения на подложках из монокристаллического кремния. Полученные структуры были
исследованы методом Рамановской спектроскопии и оптической спектрофотометрии. Наблюдаемые на спектрах
рамановского рассеяния линии подтвердили наличие кристаллического ZnO в сформированных пленках. Полученные
структуры демонстрируют широкую полосу фотолюминесценции в видимом диапазоне с максимумом на длине волны 590 нм,
соответствующую излучательным переходам через обусловленные дефектами уровни в запрещенной зоны полупроводника.