Основными физическими причинами, обуславливающими появление временных отказов микропроцессорных
устройств, являются электромагнитные помехи и воздействие ионизирующего излучения на полупроводниковые структуры.
Анализ среды, в которой функционирует микропроцессорное устройство, и влияния её факторов позволят оценить вероятность
возникновения временного отказа.