Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств

Майоров, Л. В.

Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:47:32Z

Аннотация:

Основными физическими причинами, обуславливающими появление временных отказов микропроцессорных устройств, являются электромагнитные помехи и воздействие ионизирующего излучения на полупроводниковые структуры. Анализ среды, в которой функционирует микропроцессорное устройство, и влияния её факторов позволят оценить вероятность возникновения временного отказа.

Ключевые слова:
материалы конференций, микропроцессорные устройства, ионизирующее излучение

Тип: Статья