Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:48:10Z

Аннотация:

Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств, в том числе оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) встраиваемых систем. Обосновывается использование многократных тестов ОЗУ с изменяемым начальным состоянием для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ. Приводятся оценки минимальной, средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ.

Тип: Статья