Дефекты полупроводниковых приборов, вызванные воздействием ЭМИ

Лисовский, А. А.; Константинов, А. А.; Панасюк, Н. А.

Дефекты полупроводниковых приборов, вызванные воздействием ЭМИ

Лисовский, А. А., Константинов, А. А., Панасюк, Н. А.

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:50:37Z

Аннотация:

Выявление причин неработоспособности полупроводниковых приборов (ППП) связано с необходимостью поиска и устранения дефектов, возникших в процессе производства или эксплуатации.

Ключевые слова:
публикации ученых, полупроводниковые приборы, импульсный разря

Тип: Статья