Дата публикации: 2020

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:52:01Z

Аннотация:

В работе описывается применение метода индивидуального прогнозирования надёжности изделий электронной техники (ИЭТ) по информативным параметрам, а также приводятся основные этапы ускоренных испытаний полупроводниковых приборов (ППП) на надёжность. Предлагается подход к анализу большого объёма данных со значениями параметров ППП и выявлению информативных параметров.

Тип: Статья