Дата публикации: 2020

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:53:13Z

Аннотация:

В представленной работе проведена оценка эффективности алгоритмов и программных средств сегментации, обеспечивающих выделение областей изображений атомно-силовой микроскопии, соответствующих элементам поверхностей неорганических материалов. Также разработаны: алгоритм параметризации и разбиения топографического пространства на симплексы, учитывающий особенности изображений атомно-силовой микроскопии, обеспечивающий описание материалов; алгоритм фильтрации АСМ-изображений на основе форм-факторов сегментов; алгоритм высокоточной совмещения и сшивки цифровых изображений атомно-силовой микроскопии неорганических материалов с использованием геометрических параметров топографических элементов поверхностей.

Тип: Статья