Дата публикации: 2020

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:54:53Z

Аннотация:

В докладе приводятся основные проблемы прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов, приводится обоснование актуальности использования методов прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов, а также описывается метод индивидуального прогнозирования полупроводниковых приборов по информативным параметрам.

Тип: Статья