Эволюция состояния оптикоэлектронных средств разведки и наведения достаточно полно может быть представлена графами состояний, описываемых обобщенными Марковскими процессами. При этом ключевым вопросом является определение матрицы интенсивностей переходов системы из состояния потери визуального контакта в состояние его восстановления.