Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Статистическая обработка результатов измерения параметров полупроводниковых приборов

Дата публикации: 2010

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:57:27Z

Аннотация:

Результаты измерения и моделирования, используемые на различных этапах изготовления и проектирования ИМС для расчета статистических оценок, проведения статистического анализа и аппроксимации, зачастую содержат ошибки и погрешности, которые могут существенно сказываться на адекватности результатов статистических исследований.

Тип: Статья


Связанные документы (рекомендация CORE)